Léon Sanche : rapport d'un membre associé

		Léon Sanche au laboratoire	Tél. : (819) 563-5555 poste 4678 Téléc. : (819) 564-5442 Adresse électronique : lsanche@courrier.usherb.ca Champs d'activités Nouvelle approche à l'étude du vieillissement électronique sur les diélectriques

Introduction :

Ce projet de recherche vise une compréhension fondamentale du vieillissement électronique des diélectriques soumis à des champs électriques élevés. L'approche suggérée a pour objectif de cerner l'influence des électrons non-thermalisés, produits par ces champs électriques, sur la morphologie des isolants polymériques. Les techniques d'impact d'électrons de basses énergies serviront de point de départ au développement d'une méthode spécifiquement adaptée à l'étude des diélectriques d'usage commun tel le polyéthylène. Les échantillons de diélectriques ont été préparés par l'IREQ.

La démarche proposée consiste après une préparation sous hyper-vide des échantillons à mesurer la transmission d'électrons à travers la cible et de mesurer par spectroscopie de masse avec désorption thermique la dégradation des échantillons. Le premier type de mesure permet de mesurer les charges pièges dans l'échantillon en fonction de l'énergie d'électrons incidents. Afin de contourner les problèmes de charge découlant de la grande épaisseur des échantillons disponibles et utilisables, un ajustement de différents paramètres (intensité des faisceaux d'électrons pulsés) et l'usage d'appareils de détection de haute sensibilité (femtocoulombmètre, multiplicateur d'électrons) et de dépiégeage (photons UV) sont nécessaires pour mesurer la désorption de molécules en fonction de l'énergie des électrons incidents avec une résolution de l'ordre de 0.3 eV.

Les résultats ont démontré la possibilité de mesurer la charge induite et d'utiliser une technique de décharge par ultraviolet. L'équipe travaille maintenant à regrouper toutes les techniques requises autour d'un même système à vide configuré de façon à répondre adéquatement aux exigences de l'étude du vieillissement électronique sur les diélectriques.

Denière mise à jour, 13 janvier 1997
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